-
Απεικονιστική Φασματομετρία Φθορισμού Ακτίνων Χ
Η φασματομετρία φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά ενέργειας (ED-XRF) ή απλώς ανάλυση XRF είναι μια καθιερωμένη φασματομετρική τεχνική που επιτρέπει τη στοιχειακή, ποιοτική και ποσοτική, ανάλυση στερεών και υγρών υλικών. […]
-
Απεικονιστική Φασματοσκοπία Διάχυτης Ανάκλασης
Η Φασματοσκοπία Διάχυτης Ανάκλασης βασίζεται στη μελέτη του φωτός το οποίο οπισθοσκεδάζεται από την υπό εξέταση επιφάνεια. Συγκεκριμένα, μια δέσμη λευκού (δηλαδή ευρέος φάσματατος) φωτός προσπίπτει στην επιφάνεια του υπό […]
-
Ανακλαστογραφία Υπερύθρου (SWIR)
Η Ανακλαστογραφία Υπερύθρου, Short Wavelength InfraRed (SWIR), βασίζεται αρχή ότι με την αύξηση του μήκους κύματος αυξάνεται και το βάθος διείσδυσης της ακτινοβολίας μέσα στο υλικό, η χρήση ακτινοβολίας στο […]
-
Απεικονιστική Φασματοσκοπία Φθορισμού με LED
H Φασματοσκοπία Φθορισμού με πηγή διέγερσης laser ή LED (φωτοδίοδο εκπομπής) βασίζεται στο φαινόμενο του φθορισμού, κατά το οποίο φθορίζοντα μόρια/υλικά, όταν ακτινοβολούνται με φως κατάλληλου μήκους κύματος, διεγείρονται σε […]
-
Υπέρυθρη Φασματοσκοπία FTIR
Οι φασματοσκοπικές μέθοδοι χρησιμοποιούνται ευρέως για την ταυτοποίηση ανόργανων και οργανικών χημικών ενώσεων, με βάση την ενεργειακή κατάσταση των δεσμών των ατόμων τους. Ειδικότερα, η περιοχή του μέσου υπερύθρου (4000-400cm-1), […]
-
Οπτική Μικροσκοπία Ορατού
Η Οπτική Μικροσκοπία (Optical Microscopy, συχνά γνωστή και ως Light Microscopy) αναφέρεται σε παρατηρήσεις υπό ορατό και υπεριώδη φωτισμό, αν και στην περίπτωση αυτή γίνεται διάκριση μεταξύ Οπτικής Μικροσκοπίας Ορατού […]