Η φασματομετρία φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά ενέργειας (ED-XRF) ή απλώς ανάλυση XRF είναι μια καθιερωμένη φασματομετρική τεχνική που επιτρέπει τη στοιχειακή, ποιοτική και ποσοτική, ανάλυση στερεών και υγρών υλικών. Η αρχή λειτουργίας της μεθόδου βασίζεται στην ιδιότητα κάθε στοιχείου του περιοδικού πίνακα να εκπέμπει τις λεγόμενες χαρακτηριστικές ακτίνες Χ κατά τον ιονισμό από μια διεγείρουσα δέσμη ακτίνων Χ. Οι χαρακτηριστικές ακτίνες Χ εμφανίζουν μοναδικές ενεργειακές τιμές για κάθε στοιχείο, επομένως, χρησιμοποιώντας ένα κατάλληλο σύστημα ανίχνευσης το αντίστοιχο στοιχείο μπορεί να αναγνωριστεί (ποιοτική ανάλυση).
Τα ιδιαίτερα πλεονεκτήματα της τεχνικής XRF, δηλαδή η γρήγορη, ταυτόχρονη και πολυστοιχειακή ικανότητα ανάλυσης, για την πλειονότητα των στοιχείων του περιοδικού πίνακα (εξαιρουμένων μόνο των χημικών στοιχείων με σχετικά μικρό ατομικό αριθμό Z<11), η καλή αναλυτική ευαισθησία της (προσφέρει ελάχιστα όρια ανίχνευσης στο όριο των μερικών μg/g για τα βέλτιστα αναλυόμενα στοιχεία), και ιδιαίτερα η ευχρηστία της στην ανάλυση δειγμάτων/αντικειμένων χωρίς ειδική προετοιμασία (μη καταστρεπτική ανάλυση), έχουν προωθήσει ιδιαίτερα την εφαρμογή της στον τομέα της αρχαιολογικής έρευνας και της συντήρησης.
Ειδικότερα η μεθοδολογία της λεγόμενης MA-XRF έχει ευρεία εφαρμογή στην αναλυτική εξέταση έργων τέχνης μέσω της δημιουργίας στοιχειακών χαρτών της κατανομής χημικών στοιχείων στην ζωγραφική επιφάνεια. Η δυνατότητα της οπτικοποίησης των αναλυτικών αποτελεσμάτων προσφέρει περισσότερο έγκυρη αναγνώριση των χρωστικών υλικών, καλύτερη κατανόηση της επιλογής συγκεκριμένων χρωστικών σε συνδυασμό με εικονογραφικά στοιχεία αλλά επιπλέον επιτρέπει να εξάγουμε συμπεράσματα και για την τεχνική εφαρμογής των μέσω αναμείξεων ή και της δημιουργίας χρωματικών στρώσεων.
