Η Οπτική Μικροσκοπία (Optical Microscopy, συχνά γνωστή και ως Light Microscopy) αναφέρεται σε παρατηρήσεις υπό ορατό και υπεριώδη φωτισμό, αν και στην περίπτωση αυτή γίνεται διάκριση μεταξύ Οπτικής Μικροσκοπίας Ορατού (Visible Light Microscopy (VLM)) και Μικροσκοπίας Φθορισμού (Fluorescent Light Microscopy (FLM).
Αναφορικά με τη συνήθη οργανολογία, είναι διαθέσιμη πληθώρα μονογραφιών και άλλων βιβλιογραφικών πηγών. Πέρα από το μήκος κύματος της ακτινοβολίας υπό την οποία πραγματοποιείται η παρατήρηση, ο τρόπος πρόσπτωσης του φωτισμού στο υπό εξέταση δείγμα ή αντικείμενο διαχωρίζει περαιτέρω τις τεχνικές μικροσκοπικής παρατήρησης, καθώς προκύπτουν εικόνες υπό ανακλώμενο ή διερχόμενο φωτισμό, υπό πολωμένο φως, κ.λπ. Η παρατήρηση υπό πολωμένο φως, για παράδειγμα, βρίσκει τόσο ευρεία εφαρμογή στην μελέτη των υλικών των έργων τέχνης ώστε να μπορεί κανείς να μιλήσει για μια ξεχωριστή τεχνική, η οποία αναφέρεται ως «Οπτική Μικροσκοπία πολωμένου φωτός» (Polarized Light Microscopy (PLM)) (Kouloumpi et al. 2012, σελ. 373). Παράλληλα, στην εξέταση των ζωγραφικών έργων η πιο ευρέως χρησιμοποιούμενη λειτουργία απεικόνισης είναι ο φωτισμός σκοτεινού πεδίου (dark field illumination), κατά την οποία το μονοπάτι του φωτός κατευθύνεται από την πηγή εκτός των αντικειμενικών φακών, μετά ανακλάται από την υπό μελέτη επιφάνεια και τελικά επιστρέφει μέσω του αντικειμενικού πίσω στους προσοφθάλμιους φακούς και την ψηφιακή κάμερα.
Αναφορικά με τη Μικροσκοπία Φθορισμού, σκοπός της μεθόδου είναι να προσφέρει τη δυνατότητα διαχωρισμού στοιχείων του δείγματος, με βάση την ακτινοβολία φθορισμού στο ορατό που παράγεται από τη διέγερση με υπεριώδη ακτινοβολία συγκεκριμένων μηκών κύματος. Υπεριώδης ακτινοβολία ενός συγκεκριμένου μήκους κύματος ή συνδυασμού μηκών κύματος που παράγεται από έναν λαμπτήρα υδραργύρου υψηλής ενέργειας διέρχεται μέσα από το φίλτρο διέγερσης και προσπίπτει στο δείγμα. Συνήθως χρησιμοποιούνται μήκη κύματος κοντά στην ορατή περιοχή, καθώς οι περισσότερες φθορίζουσες ομάδες που απαντούν σε φυτικούς ιστούς φθορίζουν ισχυρά υπό τη διέγερση αυτής της περιοχής. Η φιλτραρισμένη ακτινοβολία UV φωτίζει το δείγμα, το οποίο εκπέμπει φθορίζον φως μεγαλύτερου μήκους κύματος, δηλαδή ορατή ακτινοβολία (νόμος Stokes). Η ορατή ακτινοβολία που εκπέμπεται διέρχεται μέσα από το φίλτρο αποκοπής που δεν επιτρέπει στην ανακλώμενη ακτινοβολία UV να διέλθει. Οι προκύπτουσες φθορίζουσες περιοχές του δείγματος ακτινοβολούν έναντι ενός σκοτεινού υποβάθρου, με ικανοποιητική αντίθεση ώστε να επιτρέπεται η ανίχνευση. Όσο δε σκοτεινότερο το υπόβαθρο του μη φθορίζοντος υλικού, τόσο πιο αποτελεσματική η απεικόνιση.
Η «κλασική» Οπτική Μικροσκοπία, είναι επεμβατική μέθοδος και εφαρμόζεται σε μικροδείγμα από το υπό μελέτη υλικό μετά από κατάλληλη επεξεργασία. Ωστόσο, παρ’ όλους τους τεχνικούς περιορισμούς, η μέθοδος μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τη μελέτη της μικρομορφολογίας της επιφάνειας και με μη επεμβατικό τρόπο, δηλαδή χωρίς τη λήψη μικροδείγματος, στην περίπτωση που το έργο τέχνης, είναι δυνατόν να τοποθετηθεί στην τράπεζα του μικροσκοπίου αυτούσιο.
Βιβλιογραφία
(Handbook_of_Physical_Testing_of_Paper, n.d.; Pinna et al., 2009; Terlixi & Kouloumpi, 2012)